{"id":1273,"date":"2009-01-22T18:02:36","date_gmt":"2009-01-22T18:02:36","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1273"},"modified":"2015-05-28T14:21:06","modified_gmt":"2015-05-28T14:21:06","slug":"nanovea-profilometer-erhalt-klasse-1-reinraum-zulassung","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/nanovea-profilometer-receives-class-1cleanroom-approval\/","title":{"rendered":"Nanovea Profilometer erh\u00e4lt \"Klasse 1\"-Reinraumzulassung"},"content":{"rendered":"<p>Irvine, Kalifornien, 22. Januar 2009 - Nanovea Inc. gab heute die erfolgreiche Installation ihres Profilometers im Reinraum der Klasse 1 bei einem f\u00fchrenden Mikroelektronikhersteller bekannt. Die Freigabe von Reinr\u00e4umen der Klasse 1 ist bekannt f\u00fcr die strenge Einhaltung der Vorschriften und die besonderen Anforderungen an alle bei der Entwicklung des Ger\u00e4ts verwendeten Materialien. Die fortschrittlichen, ber\u00fchrungslosen 3D-Profilierungsf\u00e4higkeiten der Nanovea-Profilometer sind nun eine Option f\u00fcr die strengsten Reinraumanforderungen in der Mikroelektronik. Durch die Verwendung von \"sauberen\" motorisierten Lineartischen und die richtige Auswahl von Materialien haben die Ingenieure von Nanovea ein System entwickelt, das mit den strengen Klasse-1-Standards kompatibel ist. Reinr\u00e4ume der Klasse 1 haben einen streng kontrollierten Verschmutzungsgrad und lassen nur sehr wenige Partikel jeglicher Art zu. Bei der Konstruktion der X-Y-Tische war die Materialauswahl entscheidend, damit w\u00e4hrend der Pr\u00fcfung nur wenige Partikel in die Luft abgegeben werden. Das System wurde au\u00dferdem mit einem hohen Ma\u00df an Ebenheit und Genauigkeit sowie mit einem Automatisierungsgrad entwickelt, der es dem Benutzer erm\u00f6glicht, mehrere Bereiche zu messen und diese zusammenzuf\u00fcgen. Auf diese Weise kann der Benutzer eine gro\u00dfe, ebene Fl\u00e4che erstellen, um die relative Ebenheit mit sehr wenig Benutzerinteraktion zu vergleichen. Der messbare Bereich des benutzerdefinierten Profilers kann bis zu 30 cm x 30 cm gro\u00df sein, mit einer vertikalen Aufl\u00f6sung von bis zu 2 nm. Es gibt auch ein Design zum Scannen gro\u00dfer, schwerer und sogar unbeweglicher Teile. Dies ist nur ein kleiner Einblick in die Projekte, die von den Nanovea-Ingenieuren angepasst wurden. Sie haben auch ein kundenspezifisches Hochgeschwindigkeits-Profilometer mit Geschwindigkeiten von \u00fcber 30.000 Punkten\/Sekunde und maschinellem Sehen mit Bilderkennung zur Verbesserung der Effizienz entwickelt. Zus\u00e4tzlich, <a title=\"profilometer\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\">Profilometer<\/a> wurden mit kundenspezifischen Scanfunktionen ausgestattet, um Oberfl\u00e4chenmessungen sowohl von der Ober- als auch von der Unterseite zu erfassen und gleichzeitig die Dicke des Materials zu messen, und zwar mit einer Aufl\u00f6sung im Nanometerbereich. \"Die zus\u00e4tzliche Reinraumausf\u00fchrung erm\u00f6glicht Nanovea eine engere Zusammenarbeit mit strengen Umgebungen und zeigt einmal mehr unser Engagement f\u00fcr Erfindungsreichtum\". Sagte Craig Leising, Produktmanager von Nanovea, Inc.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine, CA, January 22, 2009 &#8212; Nanovea Inc. announced today the successful installation of their Profilometer within the Class 1 Cleanroom of a leading micro-electronics manufacturer. Class 1 Cleanroom clearance is known for its strict compliance and custom demand for all materials used in the development of the instrument. The advanced 3D non-contact profiling abilities [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[10],"tags":[28],"class_list":["post-1273","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-press-release","tag-class-1-cleanroom"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1273","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1273"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1273\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1313,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1273\/revisions\/1313"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1273"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1273"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1273"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}