{"id":632,"date":"2015-04-22T14:24:07","date_gmt":"2015-04-22T14:24:07","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?page_id=632"},"modified":"2017-10-26T09:45:02","modified_gmt":"2017-10-26T09:45:02","slug":"automatisierte-optische-inspektion-intro","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/automatisierte-optische-inspektion-intro\/","title":{"rendered":"Automatisierte optische Inspektion"},"content":{"rendered":"<div id=\"newslider\" style=\"min-height:auto; overflow:hidden;\">\n<ul>\n<li>\n<div class=\"slider-text\">\n<h2>AUTOMATISCHE PR\u00dcFUNG<\/h2>\n<p>F\u00fcr eine gr\u00f6\u00dfere Bandbreite an Geometrien und Materialien <br \/>\nals jedes andere optische Inspektionssystem.\n<\/div>\n<p><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" class=\"alignnone\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/uploads\/2015\/11\/slide-automated-inspection.jpg\" alt=\"Automatisierte optische Inspektion\" width=\"1033\" height=\"345\" \/><\/li>\n<\/ul>\n<\/div>\n<h1><strong>AUTOMATISIERTE OPTISCHE INSPEKTION INTRO<\/strong><\/h1>\n<p align=\"justify\">Nanovea Automated Optical Inspection (AOI) mit modernster Optik und \u00fcberlegener chromatischer Konfokaltechnologie. Der Nano- bis Makrobereich wird w\u00e4hrend der Messung automatisch erfasst (Profilabmessungen, Rauheit, Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit, Formtopografie, Ebenheit, Verzug, Volumenbereich, Stufenh\u00f6he, Dicke und andere), und zwar bei einer gr\u00f6\u00dferen Bandbreite von Geometrien und Materialien als bei jedem anderen optischen Inspektionssystem auf Bildverarbeitungs- oder Laserbasis. Durch die Verwendung einer gro\u00dfen Auswahl an optischen Stiften kann die optische Inspektion eine endlose Reihe von Anwendungen pr\u00e4zise messen. Die optische Inspektion von Nanovea hat keinen Einfluss auf die Reflektivit\u00e4t der Probe, die Variationen erfordern keine Probenvorbereitung und haben die fortschrittliche F\u00e4higkeit, gro\u00dfe Oberfl\u00e4chenwinkel zu messen. Sie k\u00f6nnen problemlos jedes Material messen: transparent, undurchsichtig, spiegelnd, diffus, poliert, rau usw. Im Gegensatz zu anderen optischen Messtechniken k\u00f6nnen gro\u00dfe Oberfl\u00e4chenbereiche ohne bildgebende Verfahren pr\u00e4zise gemessen werden. Nanovea Profilometer k\u00f6nnen mit kundenspezifischen Gr\u00f6\u00dfen, Geschwindigkeiten, Scanfunktionen, Reinraumklasse 1, mit Indexierband und f\u00fcr Inline- oder Online-Messungen gebaut werden. Um mehr \u00fcber Nanovea Tischger\u00e4te zu erfahren <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometer\">Profilometer<\/a>. *F\u00fcr weitere Spezifikationen zu AOI-Systemen wenden Sie sich direkt an Nanovea.<\/p>\n<p><strong><br \/>\nAUTOMATISCHE OPTISCHE INSPEKTION<\/strong><br \/>\nNano- bis Makrobereich<\/p>\n<table border=\"0\" width=\"1016\" cellspacing=\"0\" cellpadding=\"0\">\n<tbody>\n<tr>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-roughness\"><img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-roughness.jpg\" alt=\"Messung der Oberfl\u00e4chenrauhigkeit Textur\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-roughness\">Rauhigkeit Textur Oberfl\u00e4che<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-profile\"><img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/asphereinspection.jpg\" alt=\"Messung von Oberfl\u00e4chenprofilen\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-profile\">Profil Abmessung<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-topography-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-topography.jpg\" alt=\"Oberfl\u00e4chentopographie Formmessung\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-topography-measurement\">Topographie Form Form<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-flatness-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/flatnessinspection.jpg\" alt=\"Oberfl\u00e4chenebenheit Verzug Planarit\u00e4tsmessung\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-flatness-measurement\">Ebenheit Verzug Ebenheit<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-volume-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-volume.jpg\" alt=\"Messung des Oberfl\u00e4chenvolumens\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-volume-measurement\">Volumen Fl\u00e4che<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-step-height-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-stepheight.jpg\" alt=\"Messung der Stufenh\u00f6he an der Oberfl\u00e4che\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-step-height-measurement\">Stufenh\u00f6he Tiefe Dicke<\/a><\/div>\n<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<p><strong><br \/>\nINSPEKTION<br \/>\nSYSTEM UND SOFTWARE<\/strong><\/p>\n<div class=\"product-pic\">\n<p><strong><a><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/HS1000-.jpg\" alt=\"HS1000 Profilometer\" width=\"95\" height=\"95\" align=\"left\" border=\"none\" \/><\/a><\/strong><\/p>\n<\/div>\n<div class=\"product-desc\">\n<p align=\"justify\"><strong>HS2000 Profilometer | <\/strong> Automatisierte optische Inspektion<br \/>\nAutomatisierte optische Inspektion mit 50-mal h\u00f6heren Geschwindigkeiten als die meisten Inspektionssysteme dieser Klasse. Pr\u00fcfgeschwindigkeiten von bis zu 1m\/s und eine Datenerfassung von bis zu 31KHz erm\u00f6glichen entscheidende Pr\u00fcfungen in zeitkritischen Produktions- und Qualit\u00e4tskontrollumgebungen. Das HS1000 besteht gr\u00f6\u00dftenteils aus Granit, um eine \u00fcberragende Stabilit\u00e4t zu gew\u00e4hrleisten, und wird mit einer optionalen Geh\u00e4useworkstation geliefert, um ein vollst\u00e4ndig geschlossenes, eigenst\u00e4ndiges Instrument zu schaffen. Das HS1000 kann auch mit einem 180-Punkt-Zeilensensor ausgestattet werden, um die Inspektion bis zu 180 Mal schneller zu machen, was eine Tischgeschwindigkeit von 1 m\/s und eine Erfassungsrate von bis zu 324.000 erm\u00f6glicht. Die ideale Option f\u00fcr Hochgeschwindigkeits-Automatisierungs- und Qualit\u00e4tskontrollumgebungen. Optimierte Versionen des HS1000 Profilometers wurden f\u00fcr Produktionsumgebungen in den Bereichen Photovoltaik, Mikroelektronik und Asph\u00e4ren entwickelt. Es kann hohe Geschwindigkeiten erreichen, bis zu 31.000 Punkte pro Sekunde erfassen und Bereiche von bis zu 1m x 1m scannen. Die Messungen k\u00f6nnen von der Planarit\u00e4t von Mikroelektronik \u00fcber die Ebenheit von Solarzellen bis hin zur Topografie und Dimension von Asph\u00e4ren reichen. Erh\u00e4ltlich als Einzelger\u00e4t oder zur Inline-Integration f\u00fcr Qualit\u00e4tskontrollpr\u00fcfungen.<\/p>\n<p align=\"justify\">- Hochgeschwindigkeit - Automatisiert - Benutzerfreundliche Technologie - (PRVision) Bildmustererkennung - Verbesserte Granitstruktur - Arbeitsplatz mit Sicherheitsgeh\u00e4use - Option f\u00fcr Indexierband oder Inline-Integration - 31.000 Punkte pro Sekunde und Scanbereiche von bis zu 1 m x 1 m f\u00fcr die Inline-Qualit\u00e4tskontrolle<\/p>\n<\/div>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<div class=\"product-pic\">\n<p><strong><a><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/PRVisionSoftware.jpg\" alt=\"PRVision-Software von Nanovea\" width=\"95\" height=\"95\" align=\"left\" border=\"none\" \/><\/a><\/strong><\/p>\n<\/div>\n<div class=\"product-desc\">\n<p align=\"justify\"><strong>Software | <\/strong>2D-Mustererkennung und 3D-Analyse<em><br \/>\nPRVision<\/em> automatische Erkennung von Merkmalen aus einer vom Benutzer trainierten Bilddatei. Die Oberfl\u00e4che wird gescannt, w\u00e4hrend alle interessanten Merkmale automatisch erkannt werden. Anschlie\u00dfend werden entweder alle gefundenen Merkmale oder einige wenige, die vom Benutzer ausgew\u00e4hlt werden, automatisch gemessen. <em>PRVision<\/em> kann auch verwendet werden, um die Probenausrichtung w\u00e4hrend einer Makromessung zu referenzieren, wodurch Drehungen oder Verschiebungen, die beim Laden und Entladen der Proben aus dem Halter entstehen, automatisch korrigiert werden. Diese Option reduziert die Einrichtungszeit erheblich, wenn ein Oberfl\u00e4chenmuster oder mehrere Proben gemessen werden sollen. Die Nanovea 3D Software ist die Erfassungssoftware, die f\u00fcr die weitere Analyse verwendet wird. Mit der Software kann der Benutzer die Gr\u00f6\u00dfe der zu messenden Fl\u00e4che oder Linie sowie die seitliche Aufl\u00f6sung der Messung festlegen. Die Software erm\u00f6glicht au\u00dferdem drei verschiedene Ansichten der Messung in Echtzeit: Querschnitt, Draufsicht und 3-dimensionale Ansichten. Um das Auffinden und Messen von kleinen Oberfl\u00e4chen zu erleichtern, kann der Benutzer mit einer Funktion zur Neuzentrierung auf das gescannte Bild zeigen und klicken, um den n\u00e4chsten Scan auf diesen spezifischen Punkt zu zentrieren; oder er kann eine Point-and-Click-Funktion einer optionalen Offset-Videokamera verwenden. Die Kombination dieser beiden Funktionen erm\u00f6glicht die automatische Erkennung von Merkmalen und Defekten, die Speicherung ihrer Position und die anschlie\u00dfende Messung dieses Bereichs in 3D. Die 2D- und 3D-Daten k\u00f6nnen zum Vergleich von Dimension, Form, Rauheit, Volumen und vielem mehr mit vordefinierten Pass\/Fail-Parametern verwendet werden.<\/p>\n<\/div>\n<p style=\"clear: both;\">","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>AUTOMATISIERTE PR\u00dcFUNG F\u00fcr einen gr\u00f6\u00dferen Bereich von Geometrien und Materialien als jedes andere optische Pr\u00fcfsystem. AUTOMATISIERTE OPTISCHE INSPEKTION INTRO Nanovea Automatisierte optische Inspektion (AOI) mit modernster Optik und \u00fcberlegener chromatischer Konfokaltechnologie. 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