Optoelektronisches Filmarchiv - https://nanovea.com/de/tag/optoelektronischer-film/ Messgeräte für die Materialforschung und Qualitätskontrolle Tue, 28 Mar 2017 20:57:07 +0000 de stündlich 1 https://wordpress.org/?v=6.8.5 https://nanovea.com/wp-content/uploads/2025/02/nanovea-favicon.png Optoelektronisches Filmarchiv - https://nanovea.com/de/tag/optoelektronischer-film/ 32 32 Optoelektronische Schichtprüfung mit 3D-Profilometrie https://nanovea.com/de/optoelektronische-schicht-inspektion-mit-3d-profilometrie/?utm_source=rss&utm_medium=rss&utm_campaign=optoelectronic-film-inspection-using-3d-profilometry https://nanovea.com/de/optoelektronische-schicht-inspektion-mit-3d-profilometrie/#respond Tue, 28 Mar 2017 20:57:07 +0000 http://nanovea.com/?p=2793 Optoelectronic film devices and systems convert visible or infrared radiation to electrical signals. Thin-film optoelectronic devices have a wide variety of applications, including photocells, solar cells and LEDs, etc. The continual development of the optoelectronic thin films and the associated technologies such as impurity incorporation, etching and surface chemistry aims for improving the photoconversion at […]

The post Optoelectronic Film Inspection Using 3D Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

]]> Optoelektronische Foliengeräte und -systeme wandeln sichtbare oder infrarote Strahlung in elektrische Signale um. Optoelektronische Dünnschichtbauelemente haben eine Vielzahl von Anwendungen, darunter Fotozellen, Solarzellen, LEDs usw. Die kontinuierliche Entwicklung der optoelektronischen Dünnschichten und der damit verbundenen Technologien wie Einbau von Verunreinigungen, Ätzen und Oberflächenchemie zielt auf die Verbesserung der Photokonversion im Mikro- oder Nanobereich ab.

Optoelektronische Schichtprüfung mit 3D-Profilometrie

The post Optoelectronic Film Inspection Using 3D Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

]]> https://nanovea.com/de/optoelektronische-schicht-inspektion-mit-3d-profilometrie/feed/ 0