أرشيف طبوغرافيا الأصداف - https://nanovea.com/ar/بطاقة-شعار/تضاريس-الأصداف/ أدوات القياس لأبحاث المواد ومراقبة الجودة Tue, 06 Aug 2019 21:11:41 +0000 ع ساعيا 1 https://wordpress.org/?v=6.8.6 https://nanovea.com/wp-content/uploads/2025/02/nanovea-favicon.png أرشيف طبوغرافيا الأصداف - https://nanovea.com/ar/بطاقة-شعار/تضاريس-الأصداف/ 32 32 قياس طبوغرافيا الكونكولوجيا باستخدام مقياس الملامح ثلاثي الأبعاد https://nanovea.com/ar/%d9%82%d9%8a%d8%a7%d8%b3-%d8%a7%d9%84%d8%aa%d8%b6%d8%a7%d8%b1%d9%8a%d8%b3-%d9%88%d8%a7%d9%84%d9%83%d9%88%d9%86%d9%83%d9%88%d9%84%d9%88%d8%ac%d9%8a%d8%a7/?utm_source=rss&utm_medium=rss&utm_campaign=conchology-topography-measurement https://nanovea.com/ar/%d9%82%d9%8a%d8%a7%d8%b3-%d8%a7%d9%84%d8%aa%d8%b6%d8%a7%d8%b1%d9%8a%d8%b3-%d9%88%d8%a7%d9%84%d9%83%d9%88%d9%86%d9%83%d9%88%d9%84%d9%88%d8%ac%d9%8a%d8%a7/#respond Thu, 28 Jun 2018 13:55:37 +0000 https://nanovea.com/?p=3401 Conchology topography, by scanning the whole surface of an oyster shell, the Nanovea HS2000 Line Sensor will display its ability to work with large samples with abnormal geometries. Reflectivity, transparency, and angles do not affect the data collected with our technology, making 3D Non-Contact Profilometry ideal for all types of samples. Another difficulty that lies […]

The post Conchology Topography Measurement Using 3D Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

]]> طبوغرافيا Conchology ، من خلال مسح السطح الكامل لصدفة المحار ، سيعرض مستشعر الخط Nanovea HS2000 قدرته على العمل مع عينات كبيرة ذات أشكال هندسية غير طبيعية. لا تؤثر الانعكاسية والشفافية والزوايا على البيانات التي تم جمعها باستخدام تقنيتنا ، مما يجعل 3D Non-Contact قياس الملامح مثالي لجميع أنواع العينات. تكمن صعوبة أخرى في تحديد سمات قوقعة المحار في عدم وجود قاعدة مسطحة. تحتاج العينات عادةً إلى أن يتم تركيبها بشكل آمن على المسرح لتقليل الاهتزاز أثناء تحرك المرحلة. يتطلب هذا عادة تحضير عينات أو تركيبات إضافية لاستخدامها. ومع ذلك ، فإن مراحل تحمل الهواء السلس على مستشعر الخط Nanovea HS2000 يقلل بشكل كبير من ضوضاء المرحلة. كما يتيح التحكم الآلي في المراحل x و y و z سهولة في توسيع قياس الارتفاع المتفاوت. يسمح القياس الموسع الموضح في هذه الدراسة لأداتنا بالتقاط سطح كامل يتجاوز حدود نطاق ارتفاع القلم (حوالي 4 مم).

قياس طبوغرافيا الكونكولوجيا باستخدام مقياس الملامح ثلاثي الأبعاد

The post Conchology Topography Measurement Using 3D Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

]]> https://nanovea.com/ar/%d9%82%d9%8a%d8%a7%d8%b3-%d8%a7%d9%84%d8%aa%d8%b6%d8%a7%d8%b1%d9%8a%d8%b3-%d9%88%d8%a7%d9%84%d9%83%d9%88%d9%86%d9%83%d9%88%d9%84%d9%88%d8%ac%d9%8a%d8%a7/feed/ 0